超薄膜厚測(cè)試儀是一種用于測(cè)量超薄膜層（通常厚度在納米至微米級(jí)之間）厚度的高精度儀器。隨著微電子技術(shù)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，超薄膜層材料的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，尤其是在集成電路、光學(xué)涂層、薄膜太陽(yáng)能電池、表面處理等領(lǐng)域中，薄膜的厚度直接影響產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。

全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀儀器簡(jiǎn)介：XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無(wú)人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀 XTD-200是一款于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)；搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)，無(wú)人值守，便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。